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LT-I 系列白光干涉測厚儀基于白光干涉原理，專為薄膜、涂層厚度測量設(shè)計(jì)，具備納米級精度、超快采樣速度及寬范圍適應(yīng)性，適用于半導(dǎo)體、新能源、光學(xué)薄膜等高duan...
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